三箱式冷熱沖擊試驗(yàn)箱在芯片行業(yè)發(fā)揮著重要作用。它擁有三個(gè)獨(dú)立箱體，分別實(shí)現(xiàn)高溫、低溫和測試區(qū)的精準(zhǔn)控制。對于芯片行業(yè)而言，該設(shè)備能模擬各種不同的溫度環(huán)境變化，檢測芯片在不同溫度沖擊下的性能和可靠性。精準(zhǔn)的溫度控制和快速的溫度轉(zhuǎn)換確保測試結(jié)果準(zhǔn)確可靠。幫助芯片企業(yè)提前發(fā)現(xiàn)產(chǎn)品潛在問題，提升芯片質(zhì)量，為芯片行業(yè)的發(fā)展提供有力的檢測支持，是芯片企業(yè)不可少的重要設(shè)備。三箱式冷熱沖擊試驗(yàn)箱芯片行業(yè)使用設(shè)備

產(chǎn)品型號：TSD-150F-3P
廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家
更新時(shí)間：2024-09-03
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詳情介紹

品牌	廣皓天	價(jià)格區(qū)間	5萬-10萬
產(chǎn)地類別	國產(chǎn)	應(yīng)用領(lǐng)域	能源,電子/電池,道路/軌道/船舶,航空航天,電氣
高溫區(qū)	+60℃～200℃	低溫區(qū)	-10℃～-60℃
溫度波動度	±0.5℃	溫度均勻度	±3℃
溫度恢復(fù)時(shí)間	3～5 分鐘	高溫槽升溫速度	平均約 5℃/min
低溫槽降溫速度	平均約 1.5℃/min	高低溫暴露時(shí)間	30min 以上
高低溫轉(zhuǎn)換時(shí)間	≤10秒	樣品容積	36L
工作室尺寸	600×500×500mm（寬 × 高 × 深）	外形尺寸	約 1880×1850×2120mm
電源	380V/50Hz	重量	約 560kg

三箱式冷熱沖擊試驗(yàn)箱芯片行業(yè)使用設(shè)備

在當(dāng)今科技飛速發(fā)展的時(shí)代，芯片作為電子設(shè)備的核心部件，其質(zhì)量和可靠性至關(guān)重要。而三箱式冷熱沖擊試驗(yàn)箱，正是芯片行業(yè)中一款不可少的檢測設(shè)備。它以其出色的性能和精準(zhǔn)的測試能力，為芯片的研發(fā)、生產(chǎn)和質(zhì)量控制提供了有力的保障。

一、主要功能及特點(diǎn)：

功能：能夠快速實(shí)現(xiàn)高溫、低溫之間的切換，模擬芯片在實(shí)際使用中可能面臨的惡劣的溫度變化環(huán)境，對芯片的性能、可靠性進(jìn)行嚴(yán)格測試。

特點(diǎn)：

三箱獨(dú)立結(jié)構(gòu)，確保溫度轉(zhuǎn)換高效、準(zhǔn)確。
精準(zhǔn)的溫度控制，溫度波動小，保證測試結(jié)果的可靠性。
操作簡便，智能化控制系統(tǒng)，方便用戶進(jìn)行參數(shù)設(shè)置和監(jiān)控。
具有良好的穩(wěn)定性和耐用性，能夠長時(shí)間連續(xù)工作。

《皓天鑫》三箱沖擊箱-首圖-800×800-2 拷貝.jpg

二、TSD-150F-3P 參數(shù)：

溫度范圍：高溫區(qū) +60℃～+150℃，低溫區(qū) -10℃～-65℃。
溫度波動度：高溫區(qū) ±0.5℃，低溫區(qū) ±1.0℃。
溫度均勻度：高溫區(qū) ±2.0℃，低溫區(qū) ±2.0℃。
升溫速率：從常溫升溫至 +150℃約 30 分鐘。
降溫速率：從常溫降溫至 -65℃約 60 分鐘。
工作室尺寸：寬 × 高 × 深為 600mm×500mm×500mm。

三、具備測試條件：

該試驗(yàn)箱具備精準(zhǔn)的溫度控制能力，能夠在高溫與低溫之間快速切換，模擬各種不同的溫度變化情況。無論是三箱式還是二箱式，都擁有寬敞的測試空間，可滿足不同尺寸產(chǎn)品的測試需求。同時(shí)，配備高性能的監(jiān)測系統(tǒng)，實(shí)時(shí)記錄測試過程中的溫度、時(shí)間等參數(shù)，為測試結(jié)果的準(zhǔn)確性提供保障。

四、滿足以下標(biāo)準(zhǔn)：

一、國際標(biāo)準(zhǔn)